
设备概述
- 该设备通过激光去除在Wafer上形成的音叉晶体振子的金属薄膜来调整振荡频率。
- 通过多个同时测量实现高吞吐量。
特徴
- 配备绿色激光,实现高速修剪操作
- 通过同时测量多个数据实现高吞吐量。
- 采用高速、高精度、高可靠性电路测量。
- 通过装载机/卸载机实现自动运输功能。
- 实时显示生产管理信息。
- 探头附带自动清洁性能。
使用实例
- 该设备通过激光去除在Wafer上形成的音叉晶体振子的金属薄膜来调整振荡频率
对应选项
- 可增加同时测量81个以上169个以下晶片
- 通过更换专用夹具可以处理不同类型的晶片芯片。
- 我们将为您的产品提出最佳修整条件。请联系我们。
例)皮秒/纳秒激光、近红外/绿光激光等
简易规格表
项目 | 内容 |
---|---|
目标工件 | 音叉型晶体振子Wafer(可通过更换专用部件进行机型变更。 ) |
目标工件尺寸 | 4英寸以下Wafer |
同时测定数量 | 同时探测次数:80个晶片以下 |
图像位置校正 | 晶片位置 |
材料供应・収納 | 装载机:从收纳盒中供应Wafer、 卸载机:将Wafer收至收纳盒 |
循环时间 | 約0.5秒/个 ※节拍会因晶片的数量、加工膜厚度、加工量、加工次数而有所变动。 |
外型尺寸 | 【有折取NG芯片功能】 W1400×D1600×H1800㎜(不包括高效滤网、旋转信号灯等突起物) 【没有折取NG芯片功能】 W1000×D1500×H1750㎜(不包括高效滤网、操作电脑、旋转信号灯等突起物) |
选项 | 可将同时探测晶片数增加到81个以上160个以下 通过替换专用夹具对应多个品种 |
※ 因改善、改良,规格、外观可能在无事先通知的情况下进行变更。