
设备概述
- 以节拍0.7秒完成在 SMD 晶体器件的封装上点胶后搭载晶片,是业界领先的设备。
- 也还提供从晶体晶圆直接折取后搭载的设备。
获得日本专利第4949937号 - 我们追求易用性和高精度的搭载,并不断改进,自推出以来一直是行业第一的地位。
特征・特点
- 高精度、高性能搭载器,可处理小型 PKG,如 1612/1210/1008。
- 采用数码摄像机和新照明,实现高精度的测量,并使用 PFA 的原始图像处理系统进行测量和检查,为提高产品质量做出贡献。
- 采用支架、基座一体型结构和铸件,提高了高刚度,从而实现 0.7 秒/个的节拍时间。
- 加强 IoT/产品质量改进/自我诊断功能的设备,例如管理主要零件和消耗零件的使用时间和使用次数,以及管理粘合剂的使用时间和点胶次数。
- 可以从测量数据中进行合计。 此外,由于每个摄像机可以记录多达 50 个过去测量的图像结果,因此有助于分析缺陷不良。
使用实例
- 在SMD型晶体器件的封装上点上粘合剂后搭载晶片的组装设备。
【对应选项】 - 点胶单元的2连机制
- 从 4 英寸尺寸以下的水晶晶圆折取晶片,并将折取下的晶片搭载到涂有粘合剂的封装中。
获得日本专利第4949937号 - 在晶片搭载完成后使用激光位移计测量封装密封面和晶片面之间的高低差的功能 。
- 扩大目标品种。
- 可与清洁固化炉在线连接(4 台搭载机连接 1 台固化炉,搭载机2 台连接 1 台固化炉)
简易规格表
项目 | 内容 |
---|---|
目标工件 | SMD型水晶晶振和振荡器 |
目标工件尺寸 | 3.2×2.5、2.5×2.0、2.0×1.6、1.6×1.2、1.2×1.0、1.0×0.8(㎜) ※但标准规格尺寸接近3个品种 |
粘合剂 | 导电性粘合剂(硅系列、环氧树脂 等) |
点胶量 | 3σ:φ150μm±30μm (使用PFA指定粘合剂和针) |
点胶位置精度 | 3σ:±30μm以内 |
搭载晶片精度 | 3σ:±30μm以内 |
图像位置校正 | 测量封装(位置)、晶片(位置) |
图像检查机能 | 点胶量、点胶位置、晶片搭载位置(晶片位置偏移)、未搭载晶片 |
材料供应・排出 | 托盘(设置在10层收纳盒中) |
循环时间 | 标准规格:約0.7秒/个以下(于2点点胶时) 附带折取水晶晶圆机能:約1.0秒/个以下(于2点点胶时) |
外型尺寸 | 标准规格:W1400×D1400×H1700㎜(不包括高效滤网、监视器、旋转信号灯等突起物) 附带折取水晶晶圆机能:W1600×D1650×H1700㎜(不包括高效滤网、监视器、旋转信号灯等突起物) |
选项 | 可与洁净固化炉在线连接 |
※因改善、改良,规格、外观可能在无事先通知的情况下进行变更。