微颗粒除尘机
CAP-series

通用半导体

其他

品牌

PFA Series

设备概述

  • 该设备检测图像传感器和半导体上的异物,并用凝胶棒将其清除。

特征・特点

  • 能够检测小至Φ2μm的颗粒
  • FOV10mm见方的一次性检查
  • 结构为可彻底清洁的设备
  • 通过对凝胶棒的负压控制防止元件的损伤
  • 自动更换胶棒
  • 凝胶棒制造商的托盘可以在运行中时设置
  • 设备体积小
  • 也可配备用于在线连接的缓冲输送机

    *检测能力取决于目标工件和颗粒形状,因此需要事先评估。
    *正在开发能检测出0.5至1μm颗粒的高解析度式样。

使用实例

该设备检测图像传感器和半导体上的异物,并用凝胶棒将其清除。

简易规格表

项目内容
品名微颗粒除尘机
型号CAP-series
目标产品Image sensors, glass filters, and other semiconductor products
目标产品尺寸5×5mm~15×15mm
作业对象载物架尺寸L:186~200mm
W:45~110mm
T:0.2~2mm
设备节拍时间1.2秒/个 UPH3000(异物数量0个/载具)
2.1秒/个 UPH1750(异物数量3个/载具)
根据异物状况、数量、附着状况、设备设定条件等,节拍时间可能会延迟。
清洁度标准ISO Class4
*在检测台的载具吸附台附近测量
使用环境温度25±5℃
湿度30-70%
传送线950+15/-10mm ※符合SMEMA标准
驱动源输入电源
 单相AC200V~220V,20A
空气
 0.5MPa、20NL/min 干燥洁净的空气
真空
 真空泵
机器尺寸重量本体:长1010×宽900×高1650毫米
缓冲输送部:长470×宽380×高1210mm
*不包括 FFU(HEPA 裝置)和信号塔等突出物

※ 为了改善机器的性能,外观和规格有部分变更的可能,请谅解。

安装尺寸

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