微粒子拾取器
CAP-series

通用半导体

其他

销售方式

PFA Corporation

设备概述

  • 该设备检测图像传感器和半导体上的异物,并用凝胶棒将其清除。

特征・特点

  • 能夠檢測小至Φ2μm的顆粒
  • FOV10mm见方的一次性检查
  • 结构为可彻底清洁的设备
  • 凝胶棒不会因位置和负载控制而损坏设备
  • 自动更换胶棒
  • 凝胶棒制造商的托盘可以在运行中时设置
  • 设备体积小
  • 也可配备用于在线连接的缓冲输送机

    *檢測能力取決於目標工件和顆粒形狀,因此需要事先評估。
    *支援0.5至1μm檢測的高解析度規格也在開發中。

使用实例

该设备检测图像传感器和半导体上的异物,并用凝胶棒将其清除。

简易规格表

項目内容
品名微粒子拾取器
型号CAP-series
目標產品Image sensors, glass filters, and other semiconductor products
目標產品尺寸5×5mm~15×15mm
作业对象载物架尺寸L: 186 ~ 200mm
W: 45 ~ 110mm
T : 0.2 ~ 2mm
设备节拍时间1.2秒/個 UPH3000(異物數量0個/載體)
2.1秒/個 UPH1750(異物數量3個/載體)
根據異物狀況、數量、附著狀況、設備設定條件等,節拍時間可能會延遲。
清洁度标准ISO Class4
*檢測台載體吸附台附近的測量
使用环境溫度25±5℃
濕度30-70%
传送线950+15/-10 mm ※符合SMEMA标准
驱动源输入电源
 單相AC200V~220V,20A
空气
 0.5MPa、20NL/min 乾燥潔淨的空氣
真空
 包括真空幫浦
机器尺寸重量主體:寬1010×深900×高1650毫米
緩衝輸送單元:寬470×深380×高1210mm
*不包括 FFU(HEPA 裝置)和信號塔等突出物

※ 为了改善机器的性能,外观和规格有部分变更的可能,请谅解。

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