温度特性検査装置
PTTA-C5ZⅡ

水晶デバイス製造

温度試験

販売元

株式会社PFA

概要

  • SMD水晶振動子の温度特性検査を行う装置です。
  • 低温側(-40度)~ 高温側(120度)の温度範囲で5点の温度特性検査を実現しています。

特長

  • 温度制御にペルチェ素子モジュールを採用したことにより、均一な温度分布を実現しています。
  • 小型SMD水晶振動子に対応した温度特性検査装置です。
  • タクトタイム0.5secを実現した高精度・高速マシンです。
  • 1210/1008 の小型パッケージに対応する高精度な温度測定検査が可能です。

使用例

  • 小型SMD水晶振動子に対応した温度特性検査装置です。
  • キャリア治具・測定部を変更するだけで、さまざまなワーク検査が可能です。
  • 検査規格を設ける事で、正確な良品/不良品を分類する事が出来ます。

製品スペック

項目内容
対象ワークSMD型水晶振動子
対象ワークサイズ3.2×2.5~1.0×0.8(㎜) 
検査項目周波数・抵抗値
検査温度範囲-40℃ ~ +120℃ (5点:温度範囲は応相談)
ワーク供給パーツフィーダ
ワーク搬送専用キャリア(64個/トレー)
ワーク収納収納BOX
サイクルタイム約0.5秒/個(測定条件により伸びる場合が発生します。)
外形寸法標準仕様:W2450×D1100×H1700㎜(計測器・パトライトなどの突起物除く)

※ 性能改良のため、外観及び仕様の一部を変更することがありますのでご了承ください。

設置寸法

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