
设备概述
- 用于检查SMD晶体振子温度特性的装置。
- 在低温侧(-40度)到高温侧(120度)的大范围温度下,实现稳定的检测。
特征・特点
- 适用于小型SMD晶体振子的温度特性检测设备。
- 以0.5秒节拍时间实现高速、高精度的设备。
- 可进行高精度的温度检测,适用于 1210 和 1008 小型封装。
使用实例
- 适用于小型SMD晶体振子的温度特性检测装置。
- 只需更换载具夹具、测量部,即可进行各种工件检查。
- 通过设定检验标准,可以准确的进行良品/不良品的分类。
简易规格表
项目 | 内容 |
---|---|
目标工件 | SMD型晶体振子 |
目标工件尺寸 | 3.2×2.5~1.0×0.8(㎜) |
检测项目 | 频率・电阻值 |
检测温度范围 | ー40℃ ~ +120℃ (5点 :温度范围请咨询) |
供应工件方式 | 材料递进器 |
运送工件方式 | 专用载具(64个/托盘) |
收纳工件方式 | 收纳盒 |
循环时间 | 約0.5秒/个(根据测量条件可能延长时间。) |
外型尺寸 | 标准规格:W2450×D1100×H1700㎜(不包括测量器・旋转信号灯等突起物) |
※ 因改善、改良,规格、外观可能在无事先通知的情况下进行变更。