DIP检测用温度测试设备
PTT-300

石英器件制造

用于检查 SMD 水晶晶振的温度特性的设备。 通过连续改变温度范围从 -30°C 到 +85°C，可以检查温度特性的 DIP。

• 本设备采用珀耳帖元件进行温度控制，通过将SMD型水晶晶振放置在由珀尔帖元件调节的温度板上，可以进行高精度的温度特性测试。 此外，通过在 -30 至 +85°C 的温度中将温度控制在 每度0.5°C的 范围内，可以对温度特性进行精确的 DIP 检测。
• 藉由同时测试多个工件，从而实现高生产率。
• 装料机和卸料机可全自动执行从供应到分类和存储的整个操作。
• 是开发、质量保证、打样和小批量生产的理想温度检测设备。

• 用于检查 SMD 水晶晶振温度特性的设备。
• 通过连续改变温度，从 -30°C 到 +85°C，可以检查温度特性的 DIP。

• SMD型水晶晶振的温度特性测试
• 藉由更换专用夹具可对应多个品种