
设备概述
- 用于检测 SMD 水晶晶振的粗漏检查设备。
- 获得专利的检测方法即使在尺寸小于 1612 的小型 SMD 水晶晶振中也能实现稳定的粗漏检测。
- 此外,节拍:实现速度高达到 0.5 秒的小型设备。
特征・特点
- 适用于小型SMD水晶晶振的粗漏检测设备。
- 通过测量SMD 型水晶晶振的常压和加压时的 CI 值变化量来检测泄漏否与否,因此,还可以对应在空气粗漏测试设备中难以检测的小型SMD水晶晶振。
- PFA 独特的 CI 值测量系统可实现快速、稳定的 CI 值测量。
- 0.5秒的节拍时间、从而实现高速化的小型设备。
使用实例
- 是SMD型水晶晶振的粗陋检测设备。
- 通过测量SMD 型水晶振子的常压和加压时的 CI 值变化量来检测泄漏否与否。
因此,还可以对应在空气粗漏测试设备中难以检测的1612尺寸以下的小型SMD水晶晶振。
对应选项
- 替换零件可对应多个尺寸的品种(SMD型水晶晶振)
简易规格表
项目 | 内容 |
---|---|
目标工件 | SMD型水晶晶振 |
目标工件尺寸 | 3.2×2.5~1.0×0.8(㎜) |
CI测量 | PFA制造CI値测量系统 |
检测泄漏范围 | 5×10-6 Pa・m3/s 以上粗漏范围 |
供应工件方式 | 材料递进器 |
收纳工件方式 | 收纳盒 |
循环时间 | 約0.5秒/个(于最佳条件时) |
外形尺寸 | 标准规格:W1100×D800×H1500㎜(不包括旋转信号灯等突起) |
选项 | 替换零件可对应多个尺寸的品种(SMD型石英振荡器) |
※ 因改善、改良,规格、外观可能在无事先通知的情况下进行变更。